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如何在電子設(shè)備測試中優(yōu)化電路設(shè)置？

來源：上海自動(dòng)化儀表有限公司作者：發(fā)表時(shí)間：2017-12-13 09:51:14【小中大】

如何在電子設(shè)備測試中優(yōu)化電路設(shè)置？

C電路類型

許多人忘記了，當(dāng)您將儀器添加到您的待測設(shè)備（DUT）時(shí)，它將成為電路的一部分。選擇錯(cuò)誤的電路設(shè)置會(huì)導(dǎo)致意想不到的測量問題。

考慮下面的簡單測量電路，其中DUT可以由兩個(gè)不同的直流電路表征。在電路A中，電流源和電壓被測量。在電路B中，電壓源，電流被測量。對于大多數(shù)DUT電阻，任一電路將給出大致相同的答案。但是這個(gè)故事在DUT阻力值的極端變化。

處理極端事件

當(dāng)DUT電阻非常高時(shí)，直接在DUT上測量電壓（如電路A中所示）很困難，因?yàn)榉赜?jì)輸入電阻與DUT電阻并聯(lián)。這導(dǎo)致大部分電流通過儀表，減少了DUT電流并導(dǎo)致電壓誤差。

改變設(shè)置到電路B解決了這個(gè)問題，但可能需要一個(gè)非常好的電流表來測量由于高DUT電阻產(chǎn)生的非常低的電流值。在這種情況下，一個(gè)實(shí)際的解決方案是切換到耦合到鎖定放大器的交流電源，以避免“1 / f”噪聲。

低電阻也會(huì)帶來測量挑戰(zhàn)。對于這些器件，電路B需要高電流來將電壓降降至可測量的數(shù)量;不幸的是，這最大化了設(shè)備的內(nèi)部加熱，改變了電阻。因此，電路A是低電阻器件的更好選擇。